上海尚信环境测控技术有限公司
 
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兼容晶体硅和薄膜硅缺陷的 NIRSiCCD EL 成像研究和现场失效模式分析
太阳能光伏电池在户外长期使用的寿命衰减受两个因素的影响:

1.  紫外光对材料老化降解导致的封装水渗透失效和黄变透过衰减;

2.  太阳能电池片(或薄膜)的内在缺陷不可逆转的扩大化,导致的内部互联失效;

 尚信环境测控技术有限公司不仅在紫外老化材料衰减方面提供居于业界领先的系统高强度紫外老化试验箱,用于系统评估组件、组件材料的紫外黄变、电气绝缘衰减等长效老化程度的评估,而且提供基于产线制程各阶段、以及户外安装地的现场检测的光伏电池(组件)缺陷EL检测装置。

 太阳能电池的内在缺陷在户外风压和高湿度、紫外以及组件系统匹配不良下,内在的各种少子扩散缺陷将导致组件发热状况的不均衡,整体系统逐渐偏离设计的平衡态,在长期的户外使用中,在材料的老化衰减外,导致组件寿命的持续下降,为此,研发实验室、制程、现场对于太阳能电池的内在缺陷的系统检测,尚信提供基于NIRSiCCD 系列丰富灵活构建的EL检测解决方案。


 

系统构成

1.  NIRSiCCD相机

2.  图像捕捉增强软件

3.  电控柜和上位机

4.  图像显示器

5.  标准产线自动(或手动)进料柜

6.  工程暗室(选配) 

 

技术指标

1.  曝光时间 1ms – 300s自由设置

2.  深度冷却型CCD

3.  成像尺寸2200x1200mm

4.  分辨率优化200um/pixel 600-1400万像素选配

5.  数字化局部区域或整体的快速预览自动对焦

6.  适用于单晶硅、多晶硅、以及薄膜电池的近红外和可见光成像


NIRSiCCD系列光伏EL缺陷检测仪分为暗室型和箱体型,具体请接洽我司销售代表咨询配置。

 


   
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